Описание
Характеристики S530
- Большой выбор опций интерфейса для зондовой станции, включая модуль Testhead; поддержка ранее используемых систем Keithley, а также систем Keysight
- Стандартизованная в промышленности программная среда KTE
- Тестирование всех высоковольтных и низковольтных параметров за одно касание пробника
- Полностью автоматическая калибровка на уровне системы, выполняемая при помощи нового модуля коммутации эталонов (SRU), соответствует самым современным стандартам качества
- Программные инструменты HealthCheck, входящие в состав ПО KTE 7, значительно повышают время работы системы и целостность данных
- Встроенная защита от переходного перенапряжения и перегрузок по току сокращает до минимума дорогостоящие простои системы и повреждения пластин
- Соответствует требованиям по калибровке ISO-17025 и поддерживает требования стандарта IATF-16949
- Обеспечивает поддержку интерфейса SECS/GEM при работе с пластинами диаметром 300 мм
Характеристики S540
- Автоматическое проведение всех параметрических тестов на уровне пластины с использованием до 48 контактов, в том числе измерений высокого напряжения пробоя, емкости и низковольтных измерений в одно касание пробника без замены кабелей или инфраструктуры зондовой платы
- Проведение измерений емкости транзистора (Ciss, Coss и Crss) до 3 кВ без изменения конфигурации контрольных контактов вручную
- Обеспечение эффективности измерений низкого уровня в высокоскоростной, многоконтактной, полностью автоматизированной тестовой среде
- Системное программное обеспечение Keithley Test Environment (KTE) на базе Linux обеспечивает удобную разработку тестов и быструю их реализацию
- Идеально подходит для полностью или наполовину автоматизированных приложений, применяемых в интеграции процессов, мониторинге технологических процессов и промышленной сортировке кристаллов
- Снижение стоимости владения за счет минимизации времени тестирования, времени настройки для испытания и занимаемой площади при обеспечении производительности измерений лабораторного класса
Характеристики S500
- Технические характеристики полнофункционального источника-измерителя (SMU), включая измерения в субфемтоамперном диапазоне, обеспечивают широкий диапазон измерений почти на любом устройстве.
- Генерация импульсов и измерение вольт-амперных характеристик в импульсном режиме для тестирования памяти, накачки заряда, анализа количества ловушек заряда, предотвращения саморазогрева (импульсный режим со свипированием).
- Мало- или многоканальные системы, включая параллельное тестирование, с масштабируемыми системными источниками-измерителями Keithley.
- Высоковольтные, сильноточные и высокомощные источники-измерители для тестирования таких устройств, как мощные полевые МОП-транзисторы и устройства управления дисплеем.
- Коммутаторы, платы пробников и кабели обеспечивают полное подключение системы к проверяемому устройству.