Описание
ХАРАКТЕРИСТИКИ
- Технология
- цифровой, дифференциальный, оптический
- Подвижность
- настольный, переносной
- Количество каналов
- 2 канала, 4 канала
- Варианты и аксессуары
- USB, компактный, для ПК
- Полоса пропускания
- 15 GHz, 20 GHz, 25 GHz
ОПИСАНИЕ
- Выборочные осциллографы до 25 ГГц с моделями TDR/TDT и оптическими моделями электрические от 15 до 25 ГГц, оптические 9,5 ГГц, TDR/TDT, 2-канальные и 4-канальные, компактные, портативные, USB-приборы. Эти приборы занимают очень мало места на вашем верстаке и достаточно малы для переноски с ноутбуком для тестирования на месте, но это еще не все. Вместо использования выносных измерительных головок, подключенных к большому настольному прибору, вы можете расположить оптический прицел прямо рядом с тестируемым устройством. Теперь все, что находится между вашим прибором и ИУ, – это короткий коаксиальный кабель с малыми потерями. Все необходимое встроено в осциллограф, и вам не нужно беспокоиться о дорогостоящих аппаратных или программных дополнениях. – Последовательная дискретизация 15 ТС/с (64 фс) – Предварительное масштабирование до 15 ГГц, прямой триггер 2,5 ГГц и восстановление тактовой частоты 11,3 Гбит/с – Лучший в отрасли 16-разрядный АЦП 1 MS/s и динамический диапазон 60 дБ – Тестирование глаз и маски до 16 Гбит/с с блокировкой шаблона до 223-1 – Интуитивно понятный, совместимый с сенсорным управлением пользовательский интерфейс Windows – Всесторонние встроенные измерения, гистограмма и редактируемая библиотека масок данных – Встроенный дифференциальный, отключаемый генератор шагов TDR/TDT Типичные применения – Испытания, обслуживание и производство телекоммуникаций и радаров – Испытания оптического волокна, приемопередатчиков и лазеров – Измерения ВЧ, СВЧ и гигабитных цифровых систем – Радарные диапазоны I, G, P, L, S, C, X, Ku – Прецизионный временной и фазовый анализ – Проектирование и определение характеристик цифровых систем – Глазковая диаграмма, маска и тестирование ограничений до 10 Гбит/с – Ethernet, HDMI 1, HDMI 2, PCI, SATA, USB 2.0, USB 3.0 – Анализ TDR/TDT кабелей, разъемов, объединительных плат, печатных плат и сетей – Испытание оптических волокон, трансиверов и лазеров – Определение характеристик полупроводников
